1. Debye Screening Length.
پدیدآورنده : \ Kamakhya Prasad Ghatak, Sitangshu Bhattacharya
کتابخانه: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)
موضوع : Nanostructured materials,موادنانوساختار,a01,a01,Semiconductors -- Testing -- Optical methods.,Thomas-Fermi theory,نیمههادیها -- آزمایش -- روش های نوری
رده :
TA
418
.
9
.
G46D4
2014
E-Book
,
2. Optical absorption of impurities and defects in semiconducting crystals :
پدیدآورنده : Bernard Pajot, Bernard Clerjaud.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Crystal optics.,Optical spectroscopy.,Semiconductors-- Optical properties.,Semiconductors-- Testing-- Optical methods.
رده :
QC611
.
6
.
O6
P35
2013
3. Optical characterization of semiconductors :
پدیدآورنده : Sidney Perkowitz
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Semiconductors-- Testing-- Optical methods
رده :
TK7871
.
85
.
P426
1993
4. Optical characterization of semiconductors
پدیدآورنده : Sidney Perkowitz,Title
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه بين المللي امام خميني (ره) قزوين (قزوین)
موضوع : Semiconductors- Testing- Optical methods,Semiconductors- Optical properties
رده :
TK
.
P426
7871
.
85
1993
5. Optical characterization of semiconductors : infrared, Raman, and photoluminescence spectroscopy
پدیدآورنده : Perkowitz, S.
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Semiconductors-- Testing-- Optical methods,، Semiconductors-- Optical properties
رده :
TK
7871
.
85
.
P426
1993
6. Photomodulated optical reflectance
پدیدآورنده : / Janusz Bogdanowicz
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : Semiconductors--Testing--Optical methods,Silicon--Optical properties,Silicon--Nondestructive testing
رده :
TK7871
.
85
.
B654
2012
